x射线衍射,通常简称为XRD,是一种用于分析晶体材料结构的无损检测方法。
通过对晶体结构的研究,XRD分析被用来识别材料中存在的结晶相,从而揭示化学成分信息。通过将获得的数据与参考数据库中的数据进行比较,可以确定阶段。
x射线衍射可用于评价矿物、聚合物、腐蚀产物和未知材料。在大多数情况下,在元素处分析的样品是用粉末衍射法分析的,使用的样品是磨细的粉末188金宝搏手机端。
执行XRD分析
这种测试方法是通过将x射线定向于样品并测量散射强度作为输出方向的函数来实现的。一旦光束被分离,散射,也称为衍射模式,表明样品的晶体结构。然后使用Rietveld细化技术来表征晶体结构,该结构极有可能提供所观察到的模式。
用x射线衍射(XRD)测量残余应力(RSM)
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