光学显微镜与扫描电子显微术医疗器械检测

18年5月3日更多行业

通过聘请了专家克里斯汀Lipschultz

光学显微镜和扫描电子显微镜在医疗器械行业的基本检查方法，每个都有独特的优势和能力。

扫描电子显微镜（SEM）和光学显微镜（OM）之间的主要区别是施加到样本光束的类型。为光学显微镜，光束被施加，使观察者来分析光的影响，因为它与样品相互作用。相反，扫描电子显微镜使用电子束来检查样品，使观察者相互作用分析的电子的效果它们与材料。

的优点和缺点

光学显微镜是用于一般检查的目的的理想方法，但是扫描电子显微镜可以提供具有令人难以置信的详细的地形和组成信息的用户。扫描电子显微镜通常具有三种类型的检测器：一个二次电子探测器（SED），一个反向散射电子检测器（BSED）和能量色散光谱检测仪（EDS）。

该SED提供详细的地形信息以来的二次电子相互作用主要与样品表面的用户，并且具有大的反射角度，而BSED提供了基本的地形和基本成分的信息给用户，因为背散射电子进一步渗透到材料，和具有更小的反射角度。组成数据是相 - 低原子序数材料的出现暗和高原子序数材料的SEM显示光，但不能由BSED提供精确的化学组合物。

该EDS提供了详细的化学成分信息。在一些情况下，有益的是使用扫描电子显微术作为辅助检测方法。首先，光学显微镜被用来观察总缺陷。标本可以用这种方法易于操作，和所有的总缺陷可以被绘制并记录相对快速地进行进一步的审查。接着，扫描电子显微镜被用来观察绘制总缺陷更详细和以观察微缺陷与光学显微镜不可见的。这个两阶段方法结合了各检查方法相关联的优点，并提供了客户与在更短的时间（相比于SEM-仅全表面检查）的更详细的检查。

188金宝搏手机端元素有一个ASPEX型号3025 SEM系统自动特征分析（AFA）软件和EDS（能谱仪）的能力。该系统用于在医疗装置上的缺陷的检查以及分析的颗粒的研究。对于以后，颗粒从设备棚被捕获在金或镀碳过滤器和最多6个过滤器被放置在SEM用于后续分析。的AFA软件单独地分析每个过滤器并收集在每个颗粒有相当的数据量。